Sonda per misuratore di spessore del rivestimento

Codice

CTP01250F00

CTP01250F90

CTP10000F10

Principio operativo

Magnetico

Materiale del substrato

Metallo magnetico (acciaio, ferro ecc.)

Materiale di rivestimento

Rivestimento non magnetico (alluminio, cromo, rame, smalto, gomma, vernice ecc.)

Intervallo di misurazione (μm)

0 ~ 1250

0 ~ 10000

Risoluzione a bassa gamma (μm)

0.1

10

Precisione

Un punto

Calibrazione (μm)

± (3%H+1)

± (3%H+10)

A due punti

Calibrazione (μm)

± ((1 ~ 3)%H+1)

± ((1 ~ 3)%H+10)

Misurazione

Condizioni

Min Curvature

Raggio (mm)

1.5

Appiattire

10

Diametro del

Area min (mm)

Φ7

Φ7

Φ40

Spessore critico del substrato

(mm)

0.5

0.5

2

Codice

CTP01250FN0

Intervallo di misurazione (μm)

0 ~ 1250

Risoluzione a bassa gamma (μm)

0.1

Precisione

Calibrazione a un punto (μm)

± (3%H+1)

Calibrazione a due punti (μm)

± ((1 ~ 3)%H+1)

Codice

CTP01250N00

Principio operativo

Corrente parassita

Materiale del substrato

Substrato metallico non magnetico (rame, alluminio, zinco, stagno ecc.)

Materiale di rivestimento

Rivestimento non conduttivo (smalto, gomma, vernice, plastica, ecc.)

Intervallo di misurazione (μm)

0 ~ 1250

Risoluzione a bassa gamma (μm)

0.1

Precisione

Calibrazione a un punto (μm)

±(3%H+5)

Calibrazione a due punti (μm)

±((1~3)%H+1,5)

Misurazione della curvatura minima

Raggio di curvatura minimo (mm)

3

Diametro dell'area minima (mm)

Φ5

Spessore critico del substrato (mm)

0.3